X-RITE X-RITE i1iO Automated 3rd gen - Fynd!

i1iO Automated 3rd gen Mäter reflekterande testdiagram på olika underlag upp till 10 mm tjocka, inklusive tunt polybagmaterial, keramik och textilier. Läser mer än 500 fläckar per minut i skanningsläge under M0-mätförhållandet för att snabbt skapa anpassade profiler. Erbjuder ultimat flexibilitet genom handsfree-automatisering och enkel användning. Stöder automatisk överföringsprofilering med i1Pro 3 Plus för bakgrundsbelyst film och material som används vid skyltning. Ger mer exakta och konsekventa profiler än skapade för hand. För mer information, se den nedladdningsbara pdf-filen under fliken produktmedia nedan. X-RITE i1iO Automated 3rd gen

X-RITE X-RITE i1iO Automated 3rd gen - Köp!